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JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些...

JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀不僅具有高性能，還進一步實現了譜儀的小型化。 高級軟件和自動化技術，使常規測試全部實現了自動化。超高靈敏度自動調諧探頭包括了SuperCOOL探頭（選配件）等超低溫...

JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀是配備先進數字和高頻技術的核磁共振波譜儀。高度集成的STS（智能收發系統）采用高速、高精度數字高頻控制電路，實現了譜儀的進一步微型化和高可靠性。它能夠進行高磁場和固...

液氮液氦回收系統是一種能夠大幅抑制NMR超導磁體中液氦、液氮蒸發的裝置。 這有助于減少NMR設備管理中制冷劑的相關問題，例如在定期的制冷劑再填充中調整測量日程，以及擔心制冷劑供應不穩定等。

JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更...

隨著先進材料構造的微細化和制造過程的復雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統JIB-4700F。

JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

JXA-iHP200F 場發射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的一體化集成FE-EPMA。

IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。...

IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...